Granit wafer inspektionsbase

UNPARALLELED LTD er en af ​​de førende producenter og leverandører af granit wafer inspektionsbase i Kina. Med rigelig erfaring byder vi dig varmt velkommen til at købe avanceret granit wafer inspektionsbase lavet i Kina her fra vores fabrik. Vi accepterer også tilpassede ordrer.

UPARALLELET granitwafer-inspektionsbase er lavet af sort præcisionsgranit med høj-densitet. Den er naturligvis ikke-magnetisk med lav termisk udvidelse og fremragende vibrationsdæmpning. Efter præcisionslapning på nano-niveau giver den stabil fladhed. Velegnet til renrum med konstant-temperatur i halvlederindustrien og fungerer som den centrale referencebærer for waferinspektionsudstyr. Det beskytter optiske og sensorsystemer mod magnetisk interferens for at sikre ensartet waferinspektion.

Naturligvis ikke-magnetisk: Substratet er fri for magnetiske urenheder og forstyrrer ikke optiske og sensorkomponenter til waferinspektion, ideel til inspektion af halvledere i renrum.

Overlegen dimensionsstabilitet: UNPARALLELED® sort præcisionsgranit med densitet på ca. . 3100kg/m³ har ultra-lav termisk udvidelse. Dens referenceoverflade deformeres næsten ikke under temperaturændringer for at opretholde stabile inspektionsdata over tid.

Fremragende vibrationsdæmpning: Høj-dæmpende materiale absorberer vibrationer hurtigt og eliminerer virkningen af ​​ekstern mikro-vibration på høj-præcisionsmåling.

Præcisionsreferenceoverflade på nano-niveau: Fint overlappet til nanoplanhed. Ensartet spændingsfordeling ved flere-støttepunkter letter montering og nivellering af udstyr.

Korrosionsbestandighed og renhed: Tæt struktur forhindrer partikeludskillelse og modstår korrosion, velegnet til renrum uden halvlederkonstant-temperatur, konstant-fugtighed og støv-.

Fuld-proceskvalitetskontrol: Inspiceret af importerede metrologiinstrumenter med sporbare data. I overensstemmelse med DIN, ASME, JIS, GB og andre internationale præcisionsstandarder. Brugerdefinerede størrelser tilgængelige.

Daglig rengøring: Tør forsigtigt referenceoverfladen af ​​med en støv-fri blød klud og isopropanol eller dedikeret støv-fri rengøringsvæske. Brug ikke ståluld eller hårde skrabere for at undgå ridser på præcisionsreferenceoverfladen.

Miljøkontrol: Hold det i renrum med konstant-temperatur, konstant-fugtighed. Undgå skarpe temperaturændringer. Holdes væk fra stærke syrer, alkalier og ætsende opløsningsmidler for at forhindre overfladeerosion.

Håndteringsbeskyttelse: Løft basen jævnt på flere punkter under transport. Enkelt-løft, stød eller kollision på kanter er forbudt for at forhindre kantafslag og skjulte interne revner.

Driftsregler: Sørg for ensartet kontakt under udstyrsmontering og nivellering. Koncentreret lokal tung belastning er ikke tilladt for at forhindre belastningsskader.

Præcisionsbeskyttelse: Placer ikke værktøj eller metaldele direkte på referenceoverfladen for at undgå fordybninger og ridser. Kontroller planheden igen med metrologiinstrumenter regelmæssigt, og hold inspektionsoptegnelser.

Håndtering af skader: Kontakt producenten for om-lapning, hvis der opstår mindre ridser på referenceoverfladen. Stop med at bruge med det samme, når der er skår eller revner. Evaluer for reparation eller udskiftning. Selvslibning og reparation på-stedet-er forbudt.

Spørgsmål: Er granitwaferinspektionsbasen magnetisk, og vil det påvirke waferinspektionen? A: UNPARALLELED® sort præcisionsgranit har en ren mineralsammensætning og er naturligt ikke-magnetisk uden jern-indeholdende magnetiske urenheder. Det vil ikke forstyrre optiske sensorer og wafer-inspektionssignaler, velegnet til halvlederrenrum.

Spørgsmål: Vil basen revne under hård belastning? A: Granit har høj trykstyrke. Vi beregner belastninger i henhold til udstyrsvægt og omdrejningspunktslayout, og rimeligt designer tykkelse og støttepositioner. Det vil ikke blive knust under ensartet belastning ved normal brug. Koncentreret stødbelastning på et enkelt punkt bør undgås.

Q: Vil temperatur- og fugtændringer deformere basen og påvirke inspektionsnøjagtigheden? A: Produktet har en ultra-lav termisk udvidelseskoefficient og fremragende dimensionsstabilitet. I miljøer med halvlederkonstant-temperatur og konstant-fugtighed har referenceoverfladen minimal deformation og kan opretholde fladhed på nano-niveau i lang tid.

Q: Kan dimensioner og monteringshuller tilpasses i henhold til udstyrstegninger? A: Brugerdefineret bearbejdning er tilgængelig. Max bearbejdningslængde 20m, bredde 4000mm, tykkelse 1000mm. T-slidser, monteringshuller og positioneringsriller kan behandles efter behov.

Q: Hvordan vedligeholder man det dagligt? Hvad hvis referenceoverfladen bliver ridset? A: Rengør med en støvfri-blød klud og isopropanol. Hårdt skrabeværktøj er forbudt. Mindre ridser kan repareres ved gen-lapning på vores fabrik. Stop brugen med det samme for at vurdere, hvis der opstår skår eller revner.

Spørgsmål: Er der inspektionsrapporter, og opfylder produktet internationale standarder? A: Hvert produkt inspiceres af importerede metrologiinstrumenter. Måledata kan spores til det nationale metrologiinstitut. Den overholder DIN, ASME, JIS, GB og andre internationale præcisionsstandarder. CNAS testcertifikater er tilgængelige.

Populære tags: granit wafer inspektion base, Kina granit wafer inspektion base producenter, leverandører, fabrik